X射線探傷暗袋鉛字像質(zhì)計詳細介紹

像質(zhì)計（像質(zhì)指示器，透度計）是測定射線照片的射線照相靈敏度的器件，根據(jù)在底片上顯示的像質(zhì)計的影像，可以判斷底片影像的質(zhì)量，并可評定透照技術、膠片暗室處理情況、缺陷檢驗能力等。目前，zui廣泛使用的像質(zhì)計主要是三種：絲型像質(zhì)計、階梯孔型像質(zhì)計、平板孔型像質(zhì)計，此外還有槽型像質(zhì)計和雙絲像質(zhì)計等。像質(zhì)計應用與被檢驗工件相同或?qū)ι渚€吸收性能相似的材料制做。各種像質(zhì)計設計了自己特定的結構和細節(jié)形式，規(guī)定了自己的測定射線照相靈敏度的方法。

X射線探傷暗袋鉛字像質(zhì)計規(guī)格、價格：
360mm*80mm    單價36元
300mm*80mm    單價36元
240mm*80mm    單價36元

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